材料評価のための分析電子顕微鏡法

共立出版
進藤大輔　及川哲夫　

• 価格: 4,620円（本体4,200円＋税）
• 発行年月: 1999年05月
• 判型: Ｂ５
• ISBN: 9784320085244

内容情報

[BOOKデータベースより]

本書では、電子顕微鏡関係の研究者に限らず、特に材料開発に携わる研究者や学生にも読みやすいものとするため、数多くの装置の模式図や解析データを掲載した。また、電子顕微鏡のハードの動作原理について詳述するとともに、分析技法としてＥＥＬＳ（電子エネルギー損失分光法）とＥＤＳ（エネルギー分散型Ｘ線分光法）を中心にその原理と応用について平易に解説している。

１章　分析電子顕微鏡法の基礎
２章　分析電子顕微鏡の構成と基本操作
３章　電子エネルギー損失分光法（ＥＥＬＳ）
４章　エネルギー分散型Ｘ線分光法（ＥＤＳ）
５章　分析電子顕微鏡法の周辺技法

[日販商品データベースより]

21世紀の新しい科学技術を支える先端材料を開発する上で、その構造を理解することは、基礎的に最も重要である。
　多層膜や傾斜機能材料において、その特性を理解するためには、ナノエリアでの構造と組成を正確に知ることが必須である。この微小領域における構造と組成の解析手段として、高い分解能（〜0.1nm）特性と1nm以下の微小領域での分析機能を合わせもつ分析電子顕微鏡に、最近大きな期待が寄せられている。
　このような状況を踏まえて、最近の分析電子顕微鏡のハードとソフトさらに各種の分析技法について詳述した本書の出版を企画した次第である。『材料評価のための高分解能電子顕微鏡法』との併読をお勧めする。